飛納電鏡持續(xù)創(chuàng)新 系列一
01
“你這個位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的？"
作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問，是不是常常讓你頭疼？
02
“你這個太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？"
明明是供應商產品的問題，但強勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已？
03
“小張，我要整個組織切片的全貌，請確保拍下來。"
導師的要求太天真，臣妾做不到？
別擔心，飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)幫你解決這些問題！
2024 年，飛納發(fā)布數(shù)據采集及閱讀系統(tǒng) Phenom MAPS。該系統(tǒng)不僅革新了數(shù)據存儲的方式，還為 SEM 表征與數(shù)據分析開啟了“上帝視角"，幫您輕松掌握每一個細節(jié)，不再需要費力解釋。
今天，我們來詳細了解一下這款為科學家們提供“上帝視角"的飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)。
No。1 ：多圖層數(shù)據采集及閱讀系統(tǒng)
“人如其名"，MAPS 是地圖的意思，該系統(tǒng)會像地圖一樣，通過層級的方式，實現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，改變了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據存儲模式。并且，多圖層數(shù)據可以包含能譜。
No.2 ：大面積成像拼接，wan全無痕！
大面積成像拼接，wan全無痕
No.3：大面積能譜分析，地質行業(yè)zui愛！
這里是一個地質樣品的能譜拼圖結果，Phenom MAPS 可以實現(xiàn)對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數(shù)據，以方便進行離線分析。
No.4 ：CISA，關聯(lián)一切可視化圖片
光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。
通過結合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。
總結
飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)不僅是一個自動化的圖像、能譜采集工具，更是一個數(shù)碼存檔和關聯(lián)數(shù)據分析平臺。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數(shù)據采集及關聯(lián)系統(tǒng)，為您提供多模態(tài)的“上帝視角"，全面掌握顯微鏡數(shù)據，不再錯過任何細節(jié)。
“
下期預告
新品發(fā)布會直播預告
飛納電鏡將在第十屆電子顯微學網絡會議，重磅發(fā)布新產品以及應用案例！
iCEM 2024
“第十屆電子顯微學網絡會議（iCEM 2024）"結合目前電子顯微學主要儀器技術及應用熱點，邀請電子顯微學專家、電子顯微學儀器技術專家、電子顯微學應用專家等，重點邀請近來有重要工作成果進展的優(yōu)秀青年學者代表線上分享精彩報告。
復納科學儀器（上海）有限公司應用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布：飛納臺式掃描電鏡的技術突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時間：6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報名預約觀看。
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